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商品について

JANコード

4910028170424

発売年月日

2022年04月01日

Y!での商品説明(Yokendo e-Store 養賢堂の本)

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「広範囲の寸法の表面き裂の直流電位差法評価（１）」

機器・構造物の安全な使用にはき裂の非破壊検査が不可欠である。そのための手法の1つに直流電位差法があり、これに関する多くの先駆的な研究がなされてきた。

従来の研究の中で、直流電位差法で表面き裂とよばれる被検査物表面に突き出たき裂を高感度に計測し評価する手法として、近接端子を導入した手法（Closely Coupled Probes Potential Drop Technique；CCPPD法）の提案がある。この手法は、電流入出力と電位差計測の合計4本の端子を近接させて設置したセンサを被検査物表面に接触させることにより、極めて高感度に小さい表面き裂の寸法（被検査物表面からの奥行深さ）を評価することを実現したものである。長方形板状の2次元き裂のみならず半だ円板状3次元き裂まで対象とできる。またこの手法はき裂の非破壊評価においてしばしば問題となるき裂閉口に鈍感であり、影響されにくいことが示されている。

ところで近接端子直流電位差法は、小さい表面き裂を高感度に計測して評価することを目的として開発されたものであるため、き裂が大きくなり、その奥行深さが大きくなると、計測される電位差の