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商品について

JANコード

9784254201789

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3190

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発売日:2024年03月 / ジャンル:建築・理工 / フォーマット:本 / 出版社:朝倉書店 / 発売国:日本 / ISBN:9784254201789 / アーティストキーワード:高偉

内容詳細:目次:１　精密計測の基準/ ２　長さスケール/ ３　角度スケール/ ４　時間スケール/ ５　幾何形状と表面性状の計測/ ６　光干渉計/ ７　マシンビジョン/ ８　空間位置計測/ ９　光学顕微鏡/ １０　走査プローブ顕微鏡/ １１　誤差要因と不確かさ/ １２　自律校正法/ １３　機械学習と精密計測/ １４　超短パルスレーザと光周波数コム

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高 偉 清水裕樹 朝倉書店バイリンガルエディションセイミツケイソクガクプレシジョンメトロロジー ガオ ウェイ シミズユウキ 発行年月：2024年04月01日 予約締切日：2024年01月13日 ページ数：192p サイズ：単行本 ISBN：9784254201789 高偉（コウイ） 東北大学大学院工学研究科教授 清水裕樹（シミズユウキ） 北海道大学大学院工学研究院教授 水谷康弘（ミズタニヤスヒロ） 大阪大学大学院工学研究科准教授 道畑正岐（ミチハタマサキ） 東京大学大学院工学系研究科准教授 河野大輔（コウノダイスケ） 京都大学大学院工学研究科准教授 吉田一朗（ヨシダイチロウ） 法政大学大学院理工学研究科教授 伊東聡（イトウサトシ） 富山県立大学工学部准教授 清水浩貴（シミズヒロキ） 九州工業大学大学院工学研究院准教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 1　精密計測の基準／2　長さスケール／3　角度スケール／4　時間スケール／5　幾何形状と表面性状の計測／6　光干渉計／7　マシンビジョン／8　空間位置計測／9　光学顕微鏡／10　走査プローブ顕微鏡／11　誤差要因と不確かさ／12　自律校正法／13　機械学習と精密計測／14　超短パルスレーザと光周波数コム 本 科学・技術 工学 その他