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商品について

JANコード

9784817193261

発売年月日

2009年11月30日

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発売日:2009年11月/商品ID:6069399/ジャンル:DOMESTIC BOOKS/フォーマット:Book/構成数:1/レーベル:日科技連出版社/アーティスト:鈴木和幸、他/アーティストカナ:スズキ カズユキ/タイトル:信頼性データ解析 信頼性技術叢書/タイトルカナ:シンライセイ データ カイセキ シンライセイ ギジユツ ソウシヨ

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信頼性技術叢書 鈴木和幸 益田昭彦 日科技連出版社BKSCPN_【高額商品】 シンライセイ データ カイセキ スズキ,カズユキ マスダ,アキヒコ 発行年月：2009年11月 ページ数：250p サイズ：単行本 ISBN：9784817193261 鈴木和幸（スズキカズユキ） 1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Wilcoxon　Award（米国品質学会、米国統計学会、1999年） 益田昭彦（マスダアキヒコ） 1940年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。現在、帝京科学大学生命環境学部環境学科客員教授。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、IEEE　Reliability　Japan　Chapter　Award（2007年信頼性技術功績賞） 石田勉（イシダツトム） 1946年生まれ。信州大学卒業。日本ケミカルコンデンサ株式会社で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム株式会社で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。IEC／TC56ディペンダビリティ国内委員会委員。日本信頼性学会シンポジウム実行委員会 横川慎二（ヨコガワシンジ） 1970年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士（工学）。現在、NECエレクトロニクス株式会社、基盤技術開発本部先端デバイス開発部チームマネージャー。日本電子部品信頼性センター2000年信頼性シンポジウム優秀論文賞、日本信頼性学会2003年高木賞、IEEE　Reliability　Society　Japan　Chapter　Awards　2007年論文賞など（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 序章　信頼性データ解析の必要性と近年の動向／第1章　信頼性データの集め方とデータベースの活用／第2章　信頼性データのまとめ方／第3章　信頼性データ解析の基礎／第4章　確率プロットによる寿命データの解析／第5章　信頼性データの特徴とその解析／第6章　信頼性試験と寿命データ解析／第7章　フィールド寿命データの解析／第8章　故障物理に基づく信頼性データ解析 信頼性の作り込みにおいて最も基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。 本 科学・技術 工学 その他